工研院與UL攜手抗PID

工研院量測中心段家瑞主任表示,電致衰減(PID)現象即太陽光電系統的「效能衰減」,會直接減少發電量,是目前太陽能廠商面臨的重要問題。主要成因來自於,太陽光電模組在運作時產生的高電壓,造成模組內部與邊框的電壓差,導致太陽光電模組損壞並使性能衰減,嚴重時衰減程度高達五十%以上,大幅影響貸款整體系統的功率輸出。負債整合車貸

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市場研究機構EnergyTrend調查資料顯示,歐美國家已將太陽光電模組是否具備「抗PID」能力的第三方公正單位證明,列為採購規範。太陽光電模組是由太陽能電池所組成,所以太陽能電池若能先進行與通過「抗PID」檢測,便可進一步確保太陽光電模組的品質。由工研院所發展的PID測試方法,除了能檢測太陽能電池的「抗PID」能力,也有助於業者選擇較適合的太陽能電池封裝材料來降低PID現象,達到提高發電效率並降低模組封裝成本的雙重效果。

根據工研院IEK調查,台灣為全球太陽能電池第二大生產國,相關產品的品質驗證需求也與日俱增。針對太陽光電系統在運作過程中,所出現的效能衰減現象(稱為「電致衰減」,PotentialInducedDegradation,簡稱PID),工研院與國際知名認證機構UL攜手合作,簽署服務合作協議,發展太陽能電池測試方案,提供全球首創的「抗PID」太陽能電池檢測服務,以及提供第三方公正單位的見證文件,來協助國內的太陽光電系統產品進軍歐美市場,大幅提升國際競爭力。

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新聞來源https://tw.news.yahoo.com/工研院與ul攜手抗pid-160000189.html

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